nCS1 微流控纳米粒度仪
nCS1微流控纳米粒度仪工作原理： 微流控纳米粒度仪采用微流控+电阻脉冲传感技术（microfluidic resistive pulse sensing (MRPS)），直接测定通过微流控芯片的单颗粒样品粒径与浓度，通过微流控芯片孔道区的颗粒会产生电压脉冲信号，信号的大小只与颗粒的大小成正比，避免
TH-485环境试验设备温湿度校准系统
TH-485环境试验设备温湿度校准系统、温湿度场巡检仪、温湿度巡检仪设备简介TH-485无线温湿度巡检仪是一款精度高达±0.1℃，±1%RH的小巧型无线温湿度巡检仪（4路湿度，15路温度），符合JJF1101-2019校准规范的检定要求，适合用于测量环境试验设备的温湿度参数。符合标准符合《JJF11
美国FTT有线温度验证系统
美国FTT有线温度验证系统，温度验证系统厂家，多路温度验证系统 满足FDA 21 CFR PART 11，ISO17025要求 温度验证就是指在某些产品的生产制造过程、存储、运输过程中，为了保证温度在一个规定的范围内并且符合一定的规范要求而进行的一项验证工作。 验证的定义是：“验证就是为
TC Wafer热电偶、晶圆热电偶温度传感器
TC Wafer热电偶、晶圆热电偶温度传感器、晶圆测温系统,晶圆硅片测温热电偶 随着半导体技术的不断发展，TC(热电耦合) Wafer晶圆的应用越来越广泛。TC Wafer晶元具有优异的热性能和稳定性，但其制造过程中需要进行严格的温度控制。本文介绍了TC Wafer晶圆测温技术的研究现状和应用情况，
晶圆测温系统，晶圆测温热电偶，晶圆测温装置
晶圆测温系统，晶圆测温热电偶，晶圆测温装置一、引言随着半导体技术的不断发展，晶圆制造工艺对温度控制的要求越来越高。热电偶作为一种常用的温度测量设备，在晶圆制造中具有重要的应用价值。本文旨在探讨热电偶在晶圆制造中的应用及其优化方法，以提高晶圆制造的质量和效率。二、热电偶的基本原理和工作原理热电偶是一种
纯蒸汽三项验证、过热度验证、干度值验证、不凝结气体验证
Steam SQ纯蒸汽三项验证、过热度验证、干度值验证、不凝结气体验证，纯蒸汽质量检测仪 纯蒸汽是工业生产中常用的一种介质，其品质的好坏直接影响到生产过程的效率和产品质量。在纯蒸汽的质量检测中，有三个重要的指标需要特别关注，分别是过热度、干度值和不凝结气体的含量。 首先，过热度是指纯蒸
TC Wafer热电偶、晶圆热电偶温度传感器
TC Wafer热电偶、晶圆热电偶温度传感器、晶圆测温系统,晶圆硅片测温热电偶 随着半导体技术的不断发展，TC(热电耦合) Wafer晶圆的应用越来越广泛。TC Wafer晶元具有优异的热性能和稳定性，但其制造过程中需要进行严格的温度控制。本文介绍了TC Wafer晶圆测温技术的研究现状和应用情况，
GZX92F型绝缘电阻表检定装置
GZX92F型绝缘电阻表检定装置一、概 述通量科技（南通）有限公司GZX92F型绝缘电阻表检定装置是依据JJG622-1997绝缘电阻表检定规程、JJG1005-2005电子式绝缘电阻表检定规程和JJG1072-2011直流高压高值电阻器检定规程等有关文件研制生产的。该仪器设计了独立的泄漏屏蔽端钮和
容量法卡氏水分测定仪(MKV-710S)
容量法卡氏水分测定仪(MKV-710S) 容量法卡氏水分测定仪(MKV-710S) 主要特点: 1. 采用大型8.4英寸彩色液晶触摸屏，操作控制。 2. 触摸屏透过无线蓝牙操作，更加安全且降低危险性。 3. 触摸屏MCU-710连接蓄电池后，实现携带操控。 4. 用户权限设定功能，防止错误设置，管控
库仑法卡氏水分测定仪(MKC-710S)
库仑法卡氏水分测定仪(MKC-710S)库仑法卡氏水分测定仪(MKC-710S) 主要特点:1. 采用大型8.4英寸彩色液晶触摸屏，操作控制。2. 触摸屏透过无线蓝牙操作，更加安全且降低危险性。3. 触摸屏MCU-710连接蓄电池后，实现携带操控。4. 用户权限设定功能，防止错误设置，管控方便。5.