EXPLORER 准微量天平 EX225DZH/AD
奥豪斯Explorer准微量系列天平是为实验室称量要求精确到十万分之一而设计的。Explorer系列准微量天平在不断创新的技术支持下，完美设计了高速一体化称量系统，确保了称量结果的准确性。
梅特勒-托利多精密天平 MS8001SE
无论您进行简单的日常工作，还是复杂的称量过程，NewClassic MS精密天平凭借其卓越的称量性能，快速准确的结果，帮助您提高生产力。具有单模块传感器(MonoBloc)和温度漂移和时间触发的全自动校准技术(FACT)的新一代NewClassic系列天平，为您的日常称量工作提供全面的支持
BM系列超微量分析天平
BM系列自动微量分析天平，是日本AND公司在2011年新在国际市场上推出的精度达1μg，有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。22g X 1μg、250gX0.01mg、520gX0.1mg。
梅特勒分析天平XP6U超微量
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赛多利斯Quintix224-1cn天平
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梅特勒XP56 微量天平
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